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        儀器設備

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        JSM-5610LV型掃描電子顯微鏡

        作者:        發布于:2010-09-11

          型號:JSM-5610LV

          生產國別廠家:日本電子株式會社

          主要技術指標

            高真空模式分辨率:3.0nm;

            低真空模式分辨率:4.0nm;

            放大倍數: 18X300,000X

            加速電壓: 0.5KV-30KV

            低真空度:1Pa270Pa

            圖像種類:二次電子像、背散射電子像、成分像、拓撲像。 

            圖像輸出方式:存盤、打印、照像。

          原理及應用:掃描電子顯微鏡是利用電子槍射出的高能電子束,在試樣表面作行幀掃描,激發出各種物理信號,這些信號的強度取決于試樣表面特征的掃描電子圖像。JSM-5610LV掃描電子顯微鏡主要用的工具。JSM-5610LV掃描電子顯微鏡配有低真空系統,對非導電樣品可以直接進行觀察和分析。在半導體、化工、冶金、礦冶等部門,低真空技術有著突出的作用;對于生物樣品,如組織、脂肪、花粉和根莖等,經過特有的簡單處理后,也可以直接觀察。

         

          X射線顯微分析系統(能譜儀)EDS作為掃描電鏡的附件配置在JSM-5610LV型掃描電鏡上使用。

          型號:Phoenix   

          生產國別廠家:美國通用公司(EDAX

          主要技術指標:分辨率:優于129cV;

            MK峰背比:20,000:1; 

          元素探測范圍:探測到低至鈹(包括鈹)的所有元素

          主要用途元素的定性、定量分析、粒度分析、相分布及圖像處理,P hoenix能譜儀是具有圖像及成分圖的能譜分析系統,具有分辨率高和定性、定量準確等特點。

                

          Model: JSM-5610LV

          Manufacturer: JEOL Ltd., Japan

          Main specifications: Hv Mode Resolution: 3nm

              

          LV Mode Resulution:4nm

          Magnification :18X300,000X

          Accelerating voltage :0.5Kv30kV

          Low Vacuum Degree :127Pa

            Energy Dispersive Spectrometer (EDS)

          EDS is used on JSM-5610LV as its accessory

          Model: Phoenix

          Manufacturer: EDAX, U. S. A

          Main Specifications: Resolution:127eV

          MnK ratio of peak to background: 20,000:1

          Element probing range: All elements (expect H. He .Li)

          Main applications: Quantitative and qualitative analysis of elements, particle analysis, phase distribution and image handling. Phoenix EDS provides an image and composition graph with a best resolution and high accuracy.

          

          

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