<sub id="xtthp"><var id="xtthp"><ins id="xtthp"></ins></var></sub>
<thead id="xtthp"><var id="xtthp"><ins id="xtthp"></ins></var></thead>

<sub id="xtthp"><dfn id="xtthp"></dfn></sub>
    <thead id="xtthp"></thead>

<address id="xtthp"><listing id="xtthp"></listing></address>

<address id="xtthp"><dfn id="xtthp"><menuitem id="xtthp"></menuitem></dfn></address>

        <address id="xtthp"><dfn id="xtthp"></dfn></address>

        <address id="xtthp"></address><address id="xtthp"></address>

        儀器設備

        您現在的位置:首頁 > 儀器設備

        JSM-7500F型場發射掃描電子顯微鏡

        作者:        發布于:2018-05-24
        Img-201853094619.bmp
        型號:JSM-7500F

        生產國別廠家:日本電子株式會社  

        1. 電子光學系統

        原理:場發射掃描電鏡是利用聚焦電子束與樣品表面作用產生的二次電子、背散射電子等物理信號得到表面形貌圖像以及樣品相關信息,該電鏡適用于分析和觀察樣品表面和斷面形貌及結構。

        主要技術指標:

          二次電子像分辨率:1.0nm15kV),1.4nm1kV

          電子槍:冷場發射電子槍

          加速電壓:0.1 30kV

          束流范圍:1×10-132×10-9 A

          圖像放大倍數:251000,000×, 放大倍率誤差:小于10%

        2. X射線能譜系統   

        X射線能譜儀(EDS):作為附件配置在JSM-7500F 型場發射掃描電鏡上使用

        原理:用細聚焦電子束入射樣品表面,激發出樣品微區(微米級)元素的特征X射線,分析特征X射線的能量即可知道微區中所含元素的種類(定性分析), 分析X射線的強度,則可知道微區中對應元素含量的多少(半定量分析)。

        型號:X-MaxN 

        生產國別廠家: 英國牛津儀器公司 

        主要技術指標:窗口面積:80mm2; 分辨率:優于127eV; 穩定性:1,000cps~100,000cps時,譜峰漂移<1eV,分辨率變化<1eV,48小時內譜峰漂移<1.5eVMn Kα

        元素探測范圍:探測元素Be4-U92

        主要用途: X-MaxN型電制冷能譜儀無需添加液氮,具有方便快捷、分辨率高等特點??蓪腆w材料的表面和斷面微區做元素點、線、面分布的定性和半定量分析。

         

        版權所有 Copyright © 武漢理工大學材料研究與測試中心

        博盈彩票