儀器型號：JEM-2100F

生產廠家：日本電子株式會社（JEOL）

技術指標：

1. TEM分辨力：0.23nm（點），0.102nm(晶格)；

2. STEM分辨力：0.20nm（晶格）；最小束斑尺寸：0.5nm；

3. 放大倍數：TEM下50～1100萬倍，STEM下100～1100萬倍；

4. 加速電壓：160～200kV；

5. EDSX射線能量分辯力：132eV；

6. 元素分析范圍：B－U；分析感量：10^-14～10^-21g。

主要用途：主要用于材料在納米及原子尺度的微觀形貌、結構缺陷和界面的研究，材料微區成分的定性和半定量分析。