場發射高分辨透射電子顯微鏡
發布時間:2010-09-11
儀器型號:JEM-2100F
生產廠家:日本電子株式會社(JEOL)
技術指標:
1. TEM分辨力:0.23nm(點),0.102nm(晶格);
2. STEM分辨力:0.20nm(晶格);最小束斑尺寸:0.5nm;
3. 放大倍數:TEM下50~1100萬倍,STEM下100~1100萬倍;
4. 加速電壓:160~200kV;
5. EDSX射線能量分辯力:132eV;
6. 元素分析范圍:B-U;分析感量:10-14~10-21g。
主要用途:主要用于材料在納米及原子尺度的微觀形貌、結構缺陷和界面的研究,材料微區成分的定性和半定量分析。