場發射高分辨透射電子顯微鏡
發布時間:2010-09-11

儀器型號:JEM-2100F

生產廠家:日本電子株式會社(JEOL

技術指標:

1. TEM分辨力:0.23nm(點),0.102nm(晶格);

2. STEM分辨力:0.20nm(晶格);最小束斑尺寸:0.5nm;

3. 放大倍數:TEM501100萬倍,STEM1001100萬倍;

4. 加速電壓:160200kV;

5. EDSX射線能量分辯力:132eV;

6. 元素分析范圍:BU;分析感量:10-1410-21g。

主要用途:主要用于材料在納米及原子尺度的微觀形貌、結構缺陷和界面的研究,材料微區成分的定性和半定量分析。